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            近訪硅谷:Mentor加速IC測試工具

            發布人:wangying時間:2009-12-07來源:工程師

            12月4日(周五),我們見到了Mentro Graphic公司IC診斷工具部門負責人。在硅谷,EDA工具很是熱門的。每次Globalpress公司組織的活動中,EDA廠商都是不可或缺的部分。

            我也和韓國、我國臺灣的編輯聊了一下,在他們的國家和地區,讀者和咱們一樣,也比較喜歡用芯片做應用,例如單片機??上г诠韫炔稍L,單片機公司鳳毛麟角,美國人認為單片機是較低技術,65nm、45nm制程、高密度芯片才是高端技術。


            照片 Mentor Graphics公司設計到芯片(Design to Silicon)部門副總裁兼總經理Joseph Sawicki:隨著IC制程節點從90nm向65nm和45nm延伸,需要測試的數據量會激增,相應地會帶來測試成本的提高。例如,從90nm到65nm時,由于增加了門數,傳統測試量大量增加;同時,在速(at-speed)測試也增加了,這是由于時序和信號完整性的敏感需求;到了45nm時代,在前兩者的基礎上,又新增了在新節點上探測新缺陷的測試。

            為了使客戶應對更小的制程節點、更復雜、低功耗、混合信號SoC測試,Mentor用其獲獎的嵌入式壓縮和自動測試向量生成(ATPG)技術,與Mentor 2009年8月剛剛收購的LogicVision公司的內置自測試(BIST)技術結合,稱為Tessent。Tessent線是業界最復雜的可測試設計(DFT)和芯片測試方案組合之一,它還包括LogicVision公司的SiliconInsight產品、Mentro的布線應用診斷工具和新發布的Tessent YieldInsight產品,可提供用于后硅(Post-silicon)的測試描述和產出分析。


            照片 為了慶賀本周AsiaPress tour的采訪成功,中午,大家聚集在墨西哥風味的Albequer 餐館。本照片由臺灣媒體編輯王岫晨提供(右2),他的左右都是韓國編輯(看不出來吧?他們都是兩個孩子的父親),右4、5是Globalpress公關公司的兩位員工Tanya和Cecily,筆者在右6。


            “近訪硅谷”系列文章一覽:

            第一天抵達
             
            第二天:Intersil不求最大,只求最好
             
            第三天:Fairchild專注功率產品和亞洲市場http://wangying1.spaces.eepw.com.cn/articles/article/item/68517
             
             
            第四天:電源研討和MaxLinear
             
            第二天:Verigy把半導體測試從高向低延伸
             
            第五天:EVE看好芯片高速仿真市場
            http://wangying1.spaces.eepw.com.cn/articles/article/item/68771
             
            第五天:Sequans的TD-LTE USB網卡用于上海世博會
             
            第六天:Mentor加速IC測試工具
             
            評論:環保不是賜予的,是贏得的!http://wangying1.spaces.eepw.com.cn/articles/article/item/68962

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